IT8700P+ 高速多通道直流電子負(fù)載

IT8700P+ 高速多通道直流電子負(fù)載是IT8700P系列在速度和精度上的升級版，模組支持主從并機(jī)，擴(kuò)展功率，亦兼容原IT8700P機(jī)框，新舊模組可以混合搭配。IT8700P+模組具備更快的動態(tài)響應(yīng)，可實(shí)現(xiàn)單模組電流上升速度 12A/ μs。同時(shí)，更低的導(dǎo)通內(nèi)阻，適合低壓帶載測試。更快的環(huán)路速度，可精準(zhǔn)控制電流無過沖，提高測試效率。三段電流量程，精度更高，紋波更低。電壓、電流測量速度升級到250kHz，加上內(nèi)置LAN, USB及RS232接口，支持SCPI協(xié)議，使得IT8700P+更利于系統(tǒng)集成，適用于超級電容、燃料電池、鋰電池、高速AC-DC、DC-DC電源如顯卡電源、通信電源的研發(fā)及產(chǎn)線的測試生產(chǎn)。

產(chǎn)品特點(diǎn)

? 三段電流量程，精度更高，紋波更低

? 支持16個(gè)通道模組的主從并機(jī)，靈活擴(kuò)展功率

? 更快的動態(tài)響應(yīng)，單模組電流上升下降斜率 12A/ μs

?低壓帶載，低至0V的穩(wěn)定運(yùn)行，適用于低壓電容、太陽能電池、燃料電池、低壓電源等測試

? 更快的環(huán)路速度，精準(zhǔn)控制電流無過沖

? 電壓、電流測量速度升級到 250 kHz，更利于系統(tǒng)集成

? 全面的保護(hù)功能：OVP/OCP/OPP/OTP、Sense懸空壓差保護(hù)

? 兼容IT8700P機(jī)框，新舊模組可混合搭配

? 具有短路峰值電流測量功能

? 前/后接線端子任意選擇*1

? 8種操作模式：CC/ CV/ CR/ CW/CV+CC/ CR+CC/ CW+CC/ CV+CR (CR-LED)

? 自動測試功能，可自動判定測試結(jié)果是否有超出設(shè)定規(guī)格

? 內(nèi)置LAN, USB, RS232*2

? CV環(huán)路速度可調(diào)，匹配不同電源

? 可同步執(zhí)行多組電子負(fù)載模組拉載

*1前面板端子限流15A

*2 模塊無單獨(dú)的通訊接口，可通過主機(jī)框接口進(jìn)行通訊控制

產(chǎn)品功能與優(yōu)勢

低壓帶載，低至0V的穩(wěn)定工作

IT8700P+模塊具有超低的導(dǎo)通內(nèi)阻，并有三段操作范圍的設(shè)定，于中小量程檔下，帶載電壓均<0.1V，大電流量程下，滿電流帶載電壓均<0.5V，并機(jī)操作后可獲得更低的輸入阻抗，適合用于測試燃料電池、超級電容、太陽能電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器及其他低壓高電流的電子器件。

6臺IT8733P+負(fù)載并機(jī)，于0.7V帶載320A 

靈活的模組搭配

IT8700P+系列采用可抽換模組式設(shè)計(jì)，用戶可根據(jù)需要自由選配不同的模組，并且可以和IT8700P系列的模組混合使用。而且每個(gè)負(fù)載模組和主控模組單元之中都具有高性能微處理芯片。它們之間采用平行架構(gòu)，因此具有高測試速度。負(fù)載模組之間由系統(tǒng)同步控制，也可以同步測試具有多路輸出的電源。

高速動態(tài)模式

電源往往對瞬時(shí)信號和動態(tài)響應(yīng)有較高的要求，為了滿足日益高速的電源的發(fā)展變化，IT8700P+提供了高速、可編程的動態(tài)時(shí)序控制，單模組電流上升下降斜率 12A/ μs，遠(yuǎn)高于前一代產(chǎn)品，可用于通信電源、intel顯卡電源的高速動態(tài)測試。

IT8700P+系列的動態(tài)測試功能可分為連續(xù)模式，脈沖模式及翻轉(zhuǎn)模式。

主從并聯(lián)模式

IT8700P+同規(guī)格模組之間支持主從并聯(lián)，最多可并聯(lián)8臺16通道，到4800W，并機(jī)的同步節(jié)拍差最大約4uS，并機(jī)均流精度0.1%+0.1%FS。可應(yīng)用于多種規(guī)格的待測物，功率擴(kuò)展十分靈活，方便研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的使用，設(shè)備的利用率也高。此主從并聯(lián)具備均流模式，保證動態(tài)性能和單機(jī)一致。

三段電流量程，適用于消費(fèi)電子能源之星標(biāo)準(zhǔn)

IT8700P+電流量程增加到三檔，測量精度更高，適合于電池等對于電流精度有要求的待測物。第三個(gè)低電流操作和測量范圍可為能源之星消費(fèi)類電子產(chǎn)品所需的睡眠、空閑和待機(jī)模式提供測試解決方案。此能力無需使用復(fù)雜的測試臺設(shè)備。當(dāng)需要在毫安和微安級下進(jìn)行精確的電流設(shè)置和測量時(shí)，適用于所有類型的消費(fèi)類電子產(chǎn)品。